對該係（xì）列PI薄膜進行（háng）X射線（XRD）測試表征，分（fèn）析其聚集態結構的變化情況。
經過試驗，PI薄膜（mó）的XRD曲（qǔ）線中相對強而尖（jiān）銳的衍射峰集中出現在2θ為100° ~  300°，且其強度及尖銳程序隨著DAPBO單體含量的增（zēng）加而逐（zhú）漸增強，  表明（míng）該類型的PI薄膜在一定程度上開始具有結晶性。其中，相（xiàng）對於PI-10-0而言，PI-8-2XRD曲線上的衍射峰強度（dù）較弱，而PI-4-6、PI-1-9、P[-0-10薄膜XRD曲線上的衍射峰強（qiáng）度依次增強。這可能是（shì）由於PI-10-0中僅含有PDA和ODA兩種二（èr）胺單體，兩者與二酐單體s-BPDA進行無序反應，形成具（jù）有一定空間位阻效應的分子鏈堆積結構，而微量DAPBO單體的加人，與s-BPDA形（xíng）成了（le）新的直線型結構s-BPDA/DAPBO分子鏈，此時雖沒有形成長程有序結

構，卻打亂了原有重複單元中的有序結構，不利於結晶的形成，因此（cǐ）PI-8-2 XRD曲（qǔ）線上的衍射峰減弱。隨著DAPBO單體（tǐ）的不斷加入，形成越來越多的直線型s-BPDA/DAPBO分子鏈，在高溫亞胺化的過程中形成了很強的分子鏈間作用力和長程有（yǒu）序結構，分（fèn）子鏈間（jiān）的（de）強相互作用作為物理交聯點，限製了鏈段的運動，使得（dé）分子鏈間堆砌密度增大，宏觀表現為相（xiàng）對較高的結晶度，因此對應的XRD曲線上衍射峰變得強而尖銳。